2016年11月17日，全国纳米技术标准化技术委员会（以下简称“全国纳标委”）（SAC/TC 279）年会在浙江嘉兴顺利召开。本次会议由嘉兴科民电子设备有限公司承办。来自北京大学、浙江大学、国家纳米科学中心、中科院物理研究所、中科院微电子研究所、浙江中科院应用技术研究院、中国医科院基础医学研究所、中科院上海微系统与信息技术研究所、纳米技术及应用国家工程研究中心等，共20多家企事业单位的40余位专家代表出席了会议。

上图为出席全国纳标委会议的与会人员合影

会议上浙江中科院应用研究院陈秋荣院长致欢迎词，向纳标会委员的到来标示热烈的欢迎。由主任委员朱星教授对全国纳标委在过去一年里在纳米技术标准化领域取得的成绩表示祝贺，并对相关人员表示感谢，并就如何推动纳米技术标准化提出了意见和建议。接下来，葛广路委员介绍了纳米国际标准进展和ISO/TC229、IEC/TC113会议情况，王孝平副秘书长汇报了全国纳标委2016年工作总结以及2017年的工作计划，纳米材料分委会和各工作组也分别汇报了各自工作进展情况。最后，本次年会对国家标准制修订计划项目《金纳米棒表征第2部分：光学性质》和《碳纳米管的热重-差热分析法 第二部分；无定形碳半定量分析》的送审稿进行了审查，最终上述国家标准项目经委员投票表决，全部通过审查。

上图为全国纳标委会议现场委员进行热烈讨论

18日的纳标会技术会议由浙江中科院应用技术研究院副院长夏洋主持，来自中科院上海微系统与信息技术研究所，浙江大学，复旦大学，中科院微电子研究所，中科院电工所以及嘉兴科民电子等10余家企事业单位的代表就纳米标准领域研究成果进行了汇报，现场与会委员就研究涉及的热点问题进行了深入研究和探讨。著名品牌厂商蔡司（ZEISS）和堀场（HORIBA）公司提供了会议赞助同时做了精彩的主题报告。
                                                                                              

上图为中科院上海微系统与信息技术研究所宋志棠教授进行学术报告

会后，与会委员参观了浙江中科院应用技术研究院分析测试中心（以下简称测试中心）以及嘉兴科民电子设备技术有限公司。副院长夏洋就测试中心的检测设备、检测资质和检测领域进行了说明，并就今年检测中心在纳米检测，资质认定以及环境治理等多个方面做出的工作进行了细致介绍。
                                                                       

上图为委员们参观分析测试中心

参观嘉兴科民电子的过程中，夏洋副院长就近些年嘉兴科民电子在薄膜沉积设备和薄膜沉积技术上做出的成果和突破对委员们进行了介绍。并将公司最新的设备对委员们进行了展示。委员们参观了位于一楼的生产线和二楼的工艺研发实验室。对嘉兴科民电子设备近些年取得成绩表示赞赏。

上图为嘉兴科民电子新建的光刻间以及最新型的光刻设备

      全国纳标会在嘉兴科民电子的鼎力支持以及各方的共同努力下下取得了圆满成功。全国纳标委为我国的纳米技术产业标准付出了巨大的努力，为纳米产业的有序发展提供了强力的技术支撑。嘉兴科民电子将在今后的工作中积极关注纳米技术标准领域的前沿进展，不断加大在该领域的技术和资金投入，为我国纳米技术以及纳米产业设备升级持续提升国际竞争力做出自己的贡献。